首页 - 工艺服务 - 测试工艺

椭偏仪测试

通过椭圆偏振光,测量样品表面薄膜参数,如膜厚,折射率等。

设备型号为SENresearch 4.0。光谱波段190nm-1700nm。


联系我们

服务介绍:

通过椭圆偏振光,测量样品表面薄膜参数,如膜厚,折射率等。

设备型号为SENresearch 4.0。光谱波段190nm-1700nm。


服务内容:

1. 样品表面薄膜测试


服务说明:

客户提供:观测基片。并提供薄膜参数大致范围。

实验周期:客户在工程师指导下自行观测/委托观测。

收费标准:××元/小时;特殊片另行协商。


成果展示: