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扫描电子显微镜测试

通过二次电子检测及背散电子检测,可以获得高分辨率、高衬度和高信噪比的图像。

设备型号为ZEISS GeminiSEM 500,最大加速电压30kV。15kV下分辨率为0.6nm

同时配有牛津Aztec Xmax 50 X射线能谱仪,可用于成份分析。

针对导电性差的基底,可用PECS预处理,型号为Gatan Model685。

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服务介绍:

通过二次电子检测及背散电子检测,可以获得高分辨率、高衬度和高信噪比的图像。

设备型号为ZEISS GeminiSEM 500,最大加速电压30kV。15kV下分辨率为0.6nm

同时配有牛津Aztec Xmax 50 X射线能谱仪,可用于成份分析。

针对导电性差的基底,可用PECS预处理,型号为Gatan Model685。


服务内容:

1. 微区形貌观测

2. 微区成分分析(可选)


服务说明:

客户提供:观测基片。特殊材料(如铁磁等)需说明。

实验周期:客户在工程师指导下自行观测/委托观测。

收费标准:SEM××元/小时;EDS能谱功能额外收费××元;不导电基片制备额外收费××元;特殊片另行协商。


成果展示: